PVA TePla, ein führender Anbieter für Material- und Messtechnik aus Hessen, wagt gemeinsam mit SENTECH Instruments den nächsten Schritt. Das Ziel: ein zerstörungsfreies optisches Messverfahren zur Bestimmung von Schichtdicke und Homogenität bei Halbleiterbeschichtungen. Ein technologischer Meilenstein, der das Portfolio von PVA TePla erweitert und den globalen Markt anvisiert. Frischer Schwung für das Metrologieportfolio Die Kooperation kommt nicht von ungefähr. Mit… Hier weiterlesen